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執(zhí)行標準：GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
外觀尺寸：440mm×245mm×228mm
產(chǎn)品特點：
高速率、高靈敏相關(guān)器 | 日本濱松高靈敏光電倍增管 |
雙氣流循環(huán)結(jié)構(gòu)? | 待測樣品±0.1°自動恒溫 |
全直流供電 | 進口Opnex恒溫恒功率激光器 |
NKT-N9納米激光粒度儀是基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度分析儀器， 基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在自動恒溫樣品池中，高純激光照射到樣品上，光纖在激光 90°角處接收樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動動態(tài)信號，光電倍增管將高保真動態(tài)信號傳輸給相關(guān)器，，再通過相關(guān)器進行自相關(guān)運算得出樣品的自相關(guān)曲線，結(jié)合數(shù)學方法得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程得到樣品的粒度分布結(jié)果
NKT-N9納米激光粒度儀被廣泛應(yīng)用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。
| 測量原理 | 動態(tài)光散射（DLS） |
| 粒徑范圍 | 0.5nm-10000nm(與樣品有關(guān)) |
| 探測角度 | 90° |
| 激? 光? 器 | 集成恒溫系統(tǒng)最大功率50mw，波長532nm或405固體激光器（可選） |
| 相? 關(guān)? 器 | 物理通道：512，等效通道：10000，基線通道：8，采樣及延遲時間：1us-200us動態(tài)可調(diào)，最小分辨率：6ns |
| 檢? 測? 器 | 日本濱松光子計數(shù)探測器（光電倍增管） |
| 濾波方式 | 光陷阱濾波 |
| 準? 確? 度 | 優(yōu)于±1%（平均粒徑，NIS可溯源標準樣品） |
| 重? 復? 性 | 優(yōu)于±1%（平均粒徑，NIS可溯源標準樣品） |
| 樣? 品? 池 | 10mm×10mm×40mm? 最小1ml，最大4ml |
| 最小濃度 | 0.1mg/ml-100mg/ml(與樣品有關(guān)) |
| 測量速度 | 小于5分鐘/次 |
| 溫控范圍 | 0℃-90℃（±0.1℃） |
| 溫控精度 | 0.1℃ |
| 環(huán)境溫度 | 0°C-45°C |
| 環(huán)境濕度 | 10%-85%相對濕度（無結(jié)凝） |
| 電源要求 | 220V(±20V),50Hz–60Hz |
| 執(zhí)行標準 | GB/T 19077-2016/ISO 13320:2009 |
| 外觀尺寸 | 440mm×245mm×228mm |
| 儀器重量 | 9.5kg |
詳細技術(shù)參數(shù)? ? 請與銷售部聯(lián)系
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用恒溫控制的大功率半導體激光和光纖組合搭建而成的光子相關(guān)光譜探測系統(tǒng)，使其不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力和穩(wěn)定性，保證測試結(jié)果重復穩(wěn)定。
全直流供電 儀器使用了外置適配器全直流供電技術(shù)，儀器內(nèi)部沒有220V交流電進入，消除了交流電對儀器信號采集的干擾，儀器測量更穩(wěn)定更安全。
高靈敏度與信噪比 采用具有低暗計數(shù)、高靈敏度的HAMAMATSU專業(yè)級高性能光電倍增管（PMT）作為探測器，對光子信號具有極高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結(jié)果的高準確度和高分辨率。
超強的運算功能 使用PCS技術(shù)測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件采用專用集成電路ASIC研制的高速光子相關(guān)器，具有識別6ns的極高分辨能力和極高的信號處理速度，可快速實時的采集光子數(shù)并計算相關(guān)運算，為測試準確度奠定基礎(chǔ)。
超強功能的分析軟件 分析軟件中反演算法采用國際標準推薦的累計量法以及目前比較通用的非負最小二乘法（NNLS）和Contin等多種算法，其測試結(jié)果與國際權(quán)威的同類產(chǎn)品具有很好的一致性。
高速數(shù)字相關(guān)器 自適應(yīng)通道配置，物理通道：512，等效通道：10000，基線通道：8采樣及延遲時間：1us~200us動態(tài)可調(diào)， 最小分辨能力：6ns。
高精度溫控系統(tǒng) 樣品池溫控系統(tǒng)和激光器溫控系統(tǒng)精度高達±0.1℃，使被測樣品和激光器光源在整個測試過程中都處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化對測試結(jié)果的影響，確保測試準確性和重復性。
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